华中科技大学2005年博士研究生入学考试——集成电路原理与设计 wQ@Zwbx
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第一篇MOS 逻辑集成电路 0=2H9v
Rz)v-Yu
MOS晶体管工作原理 =7#
u+*Yr9
1.1 MOS晶体管的结构特点和基本原理 B$@1QG
/nwxuy
1.2 MOS晶体管的阀值电压分析 D\@e{.$MZ|
xAeZ7. Q&
1.3 MOS晶体管的电流方程 H^ESAs6
Y!bpOa&
1.4 MOS瞬态特性
b$PT_!d
K<D`(voL
MOS器件按比例缩小 +Kxe ymwr2
2.1 按比例缩小理论 N'htcC
?f(pQy@V
2.2 高电场效应对按比例缩小器件性能的影响 9Ilfv
Uf=vs(
2.3 不能按比例缩小的参数的影响 Z83q-
y>DfM5>
2.4 VLSI发展的实际限制 A9NOeE
H(
CMOS IC工艺流程及电路中的寄生效应 d/"gq}NT
3.1 集成电路制作中几个基本工艺步骤 Gw{Gt]liq
=>gyc;{2K<
3.2 CMOS IC 工艺流程 Bl>_&A)
Oz"@yL}
3.3 CMOS IC 中的寄生效应 `V?x
xq\
x.
j Yip
CMOS反相器和CMOS传输门 9^6|ta0;0
4.1 CMOS反相器的直流特性 $)kk8Q4+K
Q
`J,dzY
4.2 CMOS 反相器的瞬态特性 o=mq$
Z:}
T4%i`<i
4.3 CMOS 反相器的功能 r[C3u[
S!`4Bl
4.4 CMOS反相器设计 :F!dTD$
Y yQf
4.5 CMOS和NMOS电路性能比较 $@+p~ )r(l
|r)>bY7
4.6 CMOS传输门 N"q+UCRC
sRo<4U0M;l
CMOS静态逻辑电路设计 2n-Tpay0
5.1 静态CMOS逻辑门的构成特点 *:fw6mnJ#
Nqo#sBS
5.2 CMOS与非门的分析 H{
Y5YTg]
{2'74
5.3 CMOS或非门的分析 +O.&64(
9TbS>o
5.4 CMOS与非门与或非门的设计 dw{#||
e4>L@7
5.5 组合逻辑电路的设计 XNkQk0i;g&
WwCK K
5.6 类NMOS电路 -Y
6.?z
$BR=IYby
5.7 传输们逻辑电路 ^
2Fs)19R
}Uq
a8&
5.8 CMOS差分CMOS逻辑系列 KL:6P-3
}jyS\drJ
动态和时序逻辑电路设计 f!uA$uLc
6.1 动态逻辑电路的特点 {'=Nb
5F
O0=,&=i
6.2 预充—求值的动态CMOS电路 %Zv(gI`A
Z@c0(ol
6.3 多米诺(Domino)CMOS电路 U~){$kpI#
6b+ WlIb
6.4 时钟CMOS(C2MOS) p0y0T|H^
upEPv
.h
6.5 无竞争(NORA)动态CMOS电路 WV!kA_
@6i8RmOu}
6.6 CMOS触发器 iuU3*yyn
/F8\%l+
6.7 时序逻辑电路 \$~oH3m&
wTMHoU*>
输入、输出缓冲器 eB/hyC1
7.1 输入缓冲器 #iqhm,u7D
ad3z]dUZ9
7.2 输入保护电路 h2/1S{/n]
L9unhx
7.3 输出缓冲器 K^cWj_a"
hO<w]jV,
7.4 脱片输出驱动级的设计 (HV~ '5D
{,-5k.P[
7.5 三态输出和双向缓冲器 FOUs=
E[
oN6*WNt J
MOS存储器 B,m$ur#$
8.1 DRAM d;jJe0pH
<{z3p:\
8.2 SRAM D'sboOY
B 1ZHV^
8.3 ROM和PLD m|cWX"#g
PHiX:0zT
MOS IC的版图设计 L};;o+5uJD
9.1 VLSI的设计方法 MCrO]N($b
ao";5m
9.2 门阵列和标准单元设计方法 ";Ig%]
xV 1Z&l
9.3 版图设计 ?D^,K`wY=B
)}it,<
SOICMOS简介 7%"\DLA
10.1 SOI CMOS工艺 @Jn:!8U0
Y /ac}q
10.2 薄膜SOIMOSFET的基本特性 -x%`Wv@L
eN?P) ,
10.3 短沟薄膜SOIMOSFET的二级效应 aaD$'Y,<>B
U!I_i*:U
BiCMOS电路 \gz
wsT2&
11.1 MOS和双极型器件性能比较 `0G.Y
>8fz ?A
11.2 BiCMOS工艺和器件结构 Qx,$)|_
eP)YJe 3
11.3 BiCMOS逻辑门的设计 6ewOZ,"j"4
%FI6\|`M
11.4 BiCMOS和CMOS电路性能的比较
6p6Tse]
V?J,ab$X#
11.5 BiCMOS电路实例 <C96]}/ ?
N[bf.5T
MOS 逻辑集成电路(续) 6.
7Kp
nMOS逻辑集成电路 Y&